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電化學(xué)分析儀特點(diǎn)及參數(shù)

更新時(shí)間:2013-08-26      點(diǎn)擊次數(shù):2194
 電化學(xué)分析儀特點(diǎn)
1.上下限報(bào)警點(diǎn)能在全量程范圍內(nèi)任意設(shè)置。
2.具有0~10或4~20mA,報(bào)警觸點(diǎn)等信號輸出。
3.儀器可有一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的RS485通訊口,可以連接串口打印機(jī)或與計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)雙向通訊。
4.選用進(jìn)口傳感器和特殊材料檢測元件,壽命長、反映快。
5.全中文液晶顯示,多級中文菜單
6.量程可自由設(shè)定

電化學(xué)分析儀參數(shù)
LabNet系列
技術(shù)參數(shù):
控制電位: ±3.2V 
zui大電流: ±50mA 
槽壓: ±12V 
參比電極輸入阻抗: >1012Ω 
zui大掃描速度: 4000mV/S 
zui小掃描速度: 2.5×10-5mV/S 
電流靈敏度量程: ±50mA、±5mA、±500uA、±50uA、±5uA、±500nA 
電位分辨率: 1mV 
電流分辨率: 15pA 
儀器尺寸: 28cm×30cm×10cm (寬×深×高) 
儀器重量: 約2 Kg 
分析技術(shù): 
恒電位循環(huán)伏安法(CV)、線性掃描伏安法(LSV)、線性掃描溶出伏安法、 
電流-時(shí)間曲線(I-T)、計(jì)時(shí)電流法(CA)、計(jì)時(shí)電量法(CC)、 
掃描階躍混合方法(SSF)、多電位階躍方法(STEP)、Tafel圖(TAFEL) 
恒電流計(jì)時(shí)電流法(CP)、電流掃描計(jì)時(shí)電流法(CPCR)、 
多電流階躍方法(ISTEP)、電位溶出分析(PSA)、電位-時(shí)間曲線(E-T)、 
開路電壓-時(shí)間曲線(OCPT)、微分電位溶出分析(DPSA) 
 
成都華誠儀器有限公司
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